USB3. 0物理层测试中主要存在以下难点:
1、接收端(RX)的测试需要让待测试产品(PUT)进入环回(Loopback)模式，而板级开发工程师很难让PUT的芯片进入环回模式来测试其误码和抖动容限
2、发送端(TX)的全部测试需要不同的兼容性测试码型(全部测试需要CP0/CP1/CP7/CP8),而对于USB3. 0的板级开发工程师来说，去配置PUT发送出不同的测试码型比较困难
3、TX和RX都是兼容性测试的必测项目，但是目前的测试方案需要多台仪器，TX和RX的测试结果分别出现在两台仪器上,生成两个独立的测试报告,测试的配置和操作过程非常复杂，完成全部项目测量需要较长时间。
