样品无损检测探伤 尺寸测量 工业CT系统检测 X射线数字无损检测 三维立体检测成像 DR X-ray
工业CT检测样品尺寸测量目的：产品的实际尺寸往往不可或缺，但因物体型面复杂或客观物理条件限制等原因会出现无法获取的情况，CT技术能很好地应对此类问题。
区别于传统的三坐标检测、影像仪等测量方法，工业CT尺寸测量优势在于产品的内部尺寸检测。它可以在不破坏样品的前提下，对于工件的所有尺寸进行测量，精度高、速度快。
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三维X射线扫描（简称CT）是以非破坏性X射线透视技术，将待测物体做360°自转，通过单一轴面的射线穿透被测物体，根据被测物体各部分对射线的吸收与透射率不同，收集每个角度的穿透图像，之后利用电脑运算重构出待测物体的实体图像。
CT是采用计算机断层扫描技术对产品进行无损检测（NDT）和无损评价（NDE）的手段，利用断层成像技术，可实现产品无损可视化测量、组装瑕疵或材料分析。
CT扫描取代传统的破坏性监测和分析，任何方向上的非破坏性切片和成像，不受周围细节特征的遮挡，可直接获得目标特征的空间位置、形状及尺寸信息。
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