【产品名称】
晶彩科技 - Chip On Wafer/Carrier 晶粒检量测设备
【设备规格与特色】
COW/COC1：适用于4吋/6吋晶圆形式；COC2：适用于200*200mm面板形式。
高效检测晶粒各类缺陷及缺晶情形。
采用AI AOI智慧检测技术，实现实时缺陷分类，提高检测效能。
可检测Minimize缺陷尺寸：0.8微米(μm)/1微米(μm)，完整捕捉微小缺陷。
同步执行高精度的晶粒TTP(平面度)、偏移(Shift)、旋转(Rotation)量测，确保测量的准确性。
能够应对大规模晶粒检测，支持超过3000万颗晶粒的同时处理。
【晶彩科技 – AI AOI卓越品牌】
晶彩科技拥有超过24年的丰富光学检量测经验，深耕AOI领域多年，设备多年来获得国内外大厂的采用高度信赖。我们深谙AOI技术的四大核心领域：光学、检测、软件控制、机构，并致力于以匠人之心打造每一台AOI检量测设备，为客户提供可靠的设备与服务。
同时晶彩科技位于上海的子公司「晶隼彩光电科技（上海）有限公司」，亦为晶彩科技在中国大陆地区，提供更全面的国际化服务。
【营业据点】
晶彩科技总部位于台湾地区新竹竹北，同时在台中与台南拥有办公室。晶彩科技亦在上海设有分公司晶隼彩光电科技（上海）有限公司，专注处理设备进出口、技术相关之其他设备服务事宜。
为提供中国地区的高效快速的服务，晶彩科技于上海、咸阳、滁州、昆山、重庆、福建、武汉、浙江、广州、长沙、深圳等地设有服务据点，以实现全国范围内客户的快速支持，打造全方位的AOI产业布局。
【晶彩科技检量测设备一览】
点击下方连结至晶彩科技官网，观看全产品列表
https://www.favite.com/aoi-aicm/?lang=zh-hans