回波损耗和模式转换的测试介绍
回波损耗和模式转换的测试要求，分别包括对发射端 的要求 SDD22/SCC22/SDC22，及接收端的 SDD11/SCC11/SDC11，这些测试主要 是反映在发射端和接收端的端口匹配情况，以及验证差分结构对于共模 干扰的抑制能力，测量的频率范围从 fLP,MAX(20MHz)到fMAX(1.35GHz)，具 体的测量门限可参考 CTS里的要求。
对于发射端的单端特性阻抗的要求， ZOS(40~62.5 欧姆 )和接收端的差分特性阻抗 ZID(80~125 欧姆 )，在测试这两项目的时， 要求发射端处于 HS模式，接收端打开端接。有一个特别的要求是在测 试发射端特性的时候要求源端发射连续的 0101 码型或随机码型，现在 在很多高速总线标准比如 SATA等规范里都有这种上电情况下的测试要 求(也叫 Hot TDR)，这就需要测量仪器能够将 DUT发出来的信号和测量 设备发出的激励信号分离开，才能准确测量出来 DUT的特征阻抗， TDR 设备发射的是阶跃信号接收是宽带接收，为了规避掉 DUT 发出的波形， 需要在测量时加入大量的平均进行测量，而 VNA 内部结构单频点扫频 激励窄带接收，可以准确快速的定位 DUT发出的频率点，从而快速得 到测量结果。
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