MIIManagement,电源上电复位测试,故障测试,MII测试,高速电路板稳定性测试

   2023-12-18 190
MIIManagement,电源上电复位测试,故障测试,MII测试,高速电路板稳定性测试


IR:命令寄存器,你可以写值到这个寄存器中通知JTAG干某件事。每个TAP只有一个IR寄存器而且长度是一定的。
DR:TAP可以有多个DR寄存器,与IR寄存器相似,每个IR值会选择不同的DR寄存器。计算JTAG链中的IC数目:
一个重要的应用是IR值是全一值,表示BYPASS命令,在BYPASS模式中,TAP控制器中的DR寄存器总是单bit的,从输入TDI到输出TDO,通常一个周期,啥也不干。
可用BYPASS模式计算IC数目。如果每个IC的TDI-TDO链的延迟是一个时钟,我们可以发送一些数据并*****它延迟了多久,那么久可以推算出JTAG链中的IC数目。



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