镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。
检测方法有1、金相法 2、库仑法 3、X-ray 方法
适用范围
金相法:采用金相显微镜检测横断面,以测量金属覆盖层、氧化膜层的局部厚度的方法。一般厚度检测需要大于1um,才能保证测量结果在误差范围之内;厚度越大,误差越小。
库仑法:适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法,包括测量多层体系,如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度,还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度,尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。
测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。X-ray 方法: 适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。包括:金(Au),银(Ag),锡(Sn),铜(Cu),镍(Ni),铬(Cr)等金属元素厚度。
本测量方法可同时测量三层覆盖层体系,或同时测量三层组分的厚度和成分。
测试原理金相法: 利用金相显微镜原理,对镀层厚度进行放大,以便准确的观测及测量。
库仑法:利用适当的电解液阳极溶解**限定面积的覆盖层,电解池电压的急剧变化表明覆盖层实质上完全溶解,经过所耗的电量计算出覆盖层的厚度。因阳极溶解的方法不同,被测量覆盖层的厚度所耗的电量也不同。用恒定电流密度溶解时,可由试验开始到试验终止的时间计算;用非恒定电流密度溶解时,由累积所耗电量计算,累积所耗电量由电量计累计显示。
X-ray方法:X射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用。此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射,这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。覆盖层单位面积质量(若密度已知,则为覆盖层线性厚度)和二次辐射强度之间存在一定的关系。
该关系首先由已知单位面积质量的覆盖层校正标准块校正确定。若覆盖层材料的密度已知,同时又给出实际的密度,则这样的标准块就能给出覆盖层线性厚度。
样品要求金相法:由于金相法测样品的厚度为局部厚度,对于一些厚度不一致的样品,需要客户指定具体部位。如没有特殊要求,我们将自行取一个较均匀的部位进行测量。
库仑法:目前我们只能测平面的镀层厚度,样品需要至少一个5 mm2平面。
X-ray方法: 其面积至少大于0.05×0.25mm