控制信号测试 控制信号过冲测试 控制信号高低电平测试 EMMC 复位测试 国产芯片替代测试

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代测服务：控制信号测试 控制信号过冲测试 控制信号高低电平测试 EMMC 复位测试 国产芯片替代测试
1．简化手机存储器的设计。eMMC是当前最红的移动设备本地存储解决方案，目的在于简化手机存储器的设计，由于NAND Flash芯片的不同厂牌，所以都需要根据每家公司的产品和技术特性来重新设计，而过去并没有技术能够通用所有厂牌的NAND Flash芯片。

2．更新速度快。每次NAND Flash制程技术改朝换代，包括70纳米演进至50纳米，再演进至40纳米或30纳米制程技术，手机客户也都要重新设计，但半导体产品每1年制程技术都会推陈出新，存储器问题也拖累手机新机种推出的速度，因此像eMMC这种把所有存储器和管理NAND Flash的控制芯片都包在1颗MCP上的概念，随着不断地发展逐渐流行在市场中。

3．加速产品研发速度。eMMC的设计概念，就是为了简化手机内存储器的使用，将NAND Flash芯片和控制芯片设计成1颗MCP芯片，手机客户只需要采购eMMC芯片，放进新手机中，不需处理其它繁复的NAND Flash兼容性和管理问题，最大优点是缩短新产品的上市周期和研发成本，加速产品的推陈出新速度。

发展趋势 eMMC规格的标准逐渐从eMMC4.3时代发展到eMMC4.4时代，eMMC4.5已经问世，2013年7月29日三星开始量产行业首款eMMC 5.0存储产品  。未来其它像更进一步的MCP产品也会把Mobile RAM一起融入，因此要打赢嵌式内存之战，还要看各家内存资源和技术的齐全度。

但以台系内存模块厂而言，还在寻找商机的切入点，除非找到愿意全面支持的内存大厂，否则未来可能只能做大陆点山寨手机市场。

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北京淼森波信息技术有限公司主要提供高速电路测试服务和仪器仪表租售业务。

检测项目：控制信号测试 控制信号过冲测试 控制信号高低电平测试 EMMC 复位测试 国产芯片替代测试
高速电路测试服务项目有：① SI信号完整性测试，主要内容是电源上电时序、复位、时钟、I2C、SPI、Flash、DDR、JTAG接口、CPLD接口测试、URAT测试、网口测试、USB2.0/USB3.0测试、MIPI测试、HDMI测试、及板卡上其它芯片接口的信号测试。② PI电源完整性测试，主要内容是电源的电压值（精度）、电源噪声/纹波、电压上下波形、测量缓启动电路参数、电源电流和冲击电流、电源告警信号、冗余电源的均流参数。③ 接口一致性测试，主要有以太网、USB2.0、USB3.0、MIPI、HDMI、SATA、Display Port、PCIE。