三次元测量仪和二次元影像仪加探针在测量物体的三维参数方面有一些不同之处。以下是它们的区别：
测量原理：三次元测量仪通常使用激光扫描、触发探针或光学投影等技术，以获取物体的三维坐标和形状数据。它可
以直接测量物体的高度、深度和曲率等三维特征。
而二次元影像仪加探针则是将传统的二次元影像测量仪与触发探针相结合。通过安装探针，可以在平面上获取物
体的尺寸、形状和位置信息，并通过测量点的坐标来计算出物体的三维参数。
适用范围：三次元测量仪适用于需要全方位、高精度的三维测量任务。它可以应对复杂的几何形状和曲面特征，适用于工业
制造、逆向工程、产品研发等领域。
二次元影像仪加探针主要用于简单的三维参数测量和表面缺陷检测。它适用于平面零件和较为简单的几何形状，以及对
寸和位置的快速测量需求。
测量精度和速度：由于三次元测量仪可以直接获取物体的三维数据，因此在精度和测量速度方面通常更高。它可以实
现高精度和高效率的测量任务。
而二次元影像测量仪加探针在垂直方向的测量精度可能会受到限制，但它具有较快的测量速度和操作简便性。
三次元测量仪和二次元影像仪加探针在测量原理、适用范围和测量精度等方面存在一些差异。根据具体的测量需求
和对象特征，选择适合的测量设备能够提高测量效果和准确性。