静电的累积可能是正的或负的电荷，因此静电放电测试对同一IC脚而言是具有正与负两种极性。对每一I/O( Input or Output) Pin而言，HBM与MM静电放电对IC的放电，有下列四种ESD测试组合：
（1）PS-mode:VSS脚接地，正的ESD电压出现在该I/O脚对VSS脚放电，此时VDD与其他脚皆悬空；
（2）NS-mode:VSS脚接地，负的ESD电压出现在该I/O脚对VSS脚放电，此时VDD与其他脚皆悬空；
（3）PD-mode:VDD脚接地，正的ESD电压出现在该I/O脚对VDD脚放电，此时VSS与其他脚皆悬空；
（4）ND-mode:VDD脚接地，负的ESD电压出现在该I/O脚对VDD脚放电，此时VDD与其他脚悬空。
1.2 Pin-to-Pin的静电放电测试
但静电放电可能出现在IC的任何两只脚之间，若该两只脚之间无直接的相关电路，唯一共同使用的是VDD与VSS电源线相连接。ESD发生在不相干的两支IC脚之间时，静电放电电流会先经由某部份的电路跑到VDD或VSS电源在线，再由VDD或VSS电源连接线跑到另一支IC脚，再由那支IC脚流出IC之外。若每一IC的每两脚之间都要做测试，那么一颗40 pin的IC便要有1560种排列组合的ESD测试，这太浪费测试时间。因此，改良式的测试方法如图所示，即所谓的Pin-to-Pin 测试。在该Pin-to-Pin测试组合中，亦由于静电放电的正负极性而分成两种测试模式 :
（1）Positive-mode:正的ESD电压出现在某一I/O 脚，此时所有其他I/O脚皆一起接地，但所有的VDD脚与VSS脚皆悬空；
（2）Negative-mode:负的ESD电压出现在某一I/O脚，此时所有其他I/O脚皆一起接地，但所有的VDD脚与VSS脚皆悬空。